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簡要描述:光的偏振調(diào)制及偏振態(tài)的檢測在近代光學(xué)精密測量和光通信中有著舉足輕重的作用。在實(shí)際應(yīng)用中,通過對光學(xué)相位延遲的系統(tǒng)的研究,可以測量任意光學(xué)相位延遲量。本實(shí)驗內(nèi)容涉及光的偏振理論、偏振調(diào)制與檢測、精確測量相位延遲等多方面理論與應(yīng)用知識。本套實(shí)驗裝置既適合光電、光信息、光學(xué)工程、光電檢測等專業(yè)本科或研究生教學(xué),也可適用在科研部門或作其他拓展使用。